Методики сканирования
Навигация
Контактная АСМ
Метод Постоянной Силы
При использовании Контактных методик кантилевер изгибается под действием сил отталкивания, действующих на зонд.
Метод Латеральных Сил
Позволяет различать области с различными коэффициентами трения, а также подчеркивать особенности рельефа поверхности.
Отображение Сопротивления Растекания
Отображение Сопротивления Растекания возможно при использовании проводящего зонда ССМ, находящегося в контакте с поверхностью образца.
Микроскопия Пьезоотклика
Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика (СМП) заключается в локальном воздействии на пьезоэлектрический образец электрическим полем и анализе результирующего смещения его поверхности под зондом
Метод Модуляции Силы
В процессе реализации Метода Модуляции Силы одновременно со сканированием образца в соответствии с Методом Постоянной Силы сканер (или образец) совершает вертикальные периодические колебания.
