Методики сканирования

Контактная АСМ


Метод Постоянной Силы

При использовании Контактных методик кантилевер изгибается под действием сил отталкивания, действующих на зонд.

Метод Латеральных Сил

Позволяет различать области с различными коэффициентами трения, а также подчеркивать особенности рельефа поверхности.

Отображение Сопротивления Растекания

Отображение Сопротивления Растекания возможно при использовании проводящего зонда ССМ, находящегося в контакте с поверхностью образца.

Микроскопия Пьезоотклика

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика (СМП) заключается в локальном воздействии на пьезоэлектрический образец электрическим полем и анализе результирующего смещения его поверхности под зондом

Метод Модуляции Силы

В процессе реализации Метода Модуляции Силы одновременно со сканированием образца в соответствии с Методом Постоянной Силы сканер (или образец) совершает вертикальные периодические колебания.