Написать в Телеграм +7 499 390 66 78

Публикации

Категории

АФМ-инструментация

Peculiarities of the Crystal Structure Evolution of BiFeO3–BaTiO3 Ceramics

Авторы: Karpinsky, D.

Журнал: Nanomaterials 2020, 10, 801

Дата публикации: 24.05.2022

Ключевые слова — темы: Piezo and Feroelectrics PFM

Ссылки:

Официальный источник

Wafer-Scale Substitutional Doping of Monolayer MoS2 Films for High-Performance Optoelectronic Devices.

Авторы: Kim, Y., Bark, H., Kang, B., & Lee, C.

Журнал: ACS Appl. Mater. Interfaces 2019, 11, 13, 12613–12621

Дата публикации: 23.05.2022

Ключевые слова — темы: Spectroscopy (AFM/Raman)

Ссылки:

Официальный источник

Enhancing sensitivity in atomic force microscopy for planar tip-on-chip probes.

Авторы: Çiftçi, H.T., Verhage, M., Cromwijk, T. et al.

Журнал: Microsyst Nanoeng 8, 51 (2022).

Дата публикации: 18.05.2022

Ключевые слова — темы: Tuning-fork Tip-on-chip Electrical and electronic engineering Nanosensors NTEGRA

Ссылки:

Официальный источник

Наночастицы и наноструктуры

Whiskers of Iron(II) (1-Hydroxyethylidene)diphosphonate and Its Complex with Morpholine.

Авторы: Semenov, V. V., Zolotareva, N. V., Novikova, O. V., Razov, E. N., Kruglov, A. V., & Kotomina, V. E.

Журнал: Crystallography Reports, 2019, 64(6), 898–904.

Дата публикации: 12.05.2020

Ключевые слова — темы: Nanocrystals Nanofibers Nanoparticles and Nanostructures Solver PRO M

Ссылки:

Официальный источник

Self-assembly of a terbium(III) 1D coordination polymer on mica.

Авторы: Evrard, Q., Cucinotta, G., Houard, F., Calvez, G., Suffren, Y., Daiguebonne, C., Guillou, O., Caneschi, A., Mannini, M., & Bernot, K.

Журнал: Beilstein Journal of Nanotechnology, 2019, 10, 2440–2448.

Дата публикации: 12.05.2020

Ключевые слова — темы: afm atomic force microscopy beilstein j luminescence nanostructuration nanotechnol polymer self-assembly surface terbium complexes ThinFilms Nanostructures Solver PRO

Ссылки:

Официальный источник

AC parallel local oxidation of silicon.

Авторы: Hemmatian, Z., Gentili, D., Barbalinardo, M., Morandi, V., Ortolani, L., Ruani, G., & Cavallini, M. (2019).

Журнал: Nanoscale Advances, 1(10), 3887–3891.

Дата публикации: 12.05.2020

Ключевые слова — темы: Local oxidation Silicon Nanostructures Semiconductors Smena

Ссылки:

Официальный источник