I'm looking for
product
Любой
АСМ зонды
Специализированные АСМ зонды
СБОМ
ВОПГ
АСМ калибровка
TERS
in a size
size
Любой
Набор из 5 зондов, размер 2um
Набор из 5 зондов, размер 3,5um
Набор из 5 зондов, размер 6,5um
Набор из 5 зондов, размер 10um
Набор из 5 зондов, размер 15um
Набор из 7 штук
Набор из 10 штук
Набор из 15 штук
Набор из 30 штук
Набор из 50 штук
Набор из 100 штук
. Show me the
&
items.
Super Search
ПРОДУКЦИЯ
NTEGRA ACADEMIA
NTEGRA AURA
NTEGRA MFM
NTEGRA SNOM
NTEGRA SPECTRA
NTEGRA PRIMA
NTEGRA THZ
О КОМПАНИИ
ДОКУМЕНТЫ
КОНТАКТЫ
МАГАЗИН ЗОНДОВ
АСМ зонды
Кантилевер входит в строение микроскопа, является ключевым элементом любого сканирующего зондового микроскопа, от свойств и качества которого зависит успешная работа микроскопа в целом. Это основной измерительный элемент многих типов зондовых микроскопов. Правильный выбор кантилевера является одним из важнейших условий получения отличных АСМ изображений. Важнейшей составляющей AСM (Атомно-силового микроскопа) являются сканирующие зонды — кантилеверы. Кантилевер представляет собой гибкую балку (175х40х4 мкм — усредненные данные) с определенным коэффициентом жесткости k (10-3 – 10 Н/м), на конце которой находится микро игла.
Специализированные АСМ зонды
Кантилевер — это наиболее распространненый датчик силового взаимодействия в атомно-силовой микроскопии. Любую информацию о поверхности атомно-силовой микроскоп получает благодаря механическим отклонениям балки кантилевера, которые регистрируются оптической системой. АСМ изображение в этом случае характеризует пространственное распределение силы взаимодействия зонда с поверхностью.
АСМ калибровка
Для определения достоверности исследований методом АСМ — микроскопии проводится тестирование и калибровка работы микроскопа и тестирование качества зондов (цена деления по X-, Y-, Z- координатам, радиус острия кантилевера, линейность и ортогональность осей сканирования). Для калибровки и определения рабочей формы зондов используются специальные тестовые структуры с известными параметрами рельефа поверхности. Для калибровки микроскопов в плоскости сканирования и по вертикали применяются дифракционные решетки с субмикронными размерами. При отсутствии специально изготовленных калибровочных решеток, можно использовать в качестве тестового объекта для получения атомарного разрешения свежий скол слюды или высоко ориентированного пиролитического графита (ВОПГ), т.к. параметры их рельефа хорошо известны. Преимуществами графита как тестового образца являются: стабильная работа выхода; низкая концентрация точечных и линейных дефектов; низкая химическая активность в атмосферных условиях; возможность получения атомарно — чистой поверхности.
ВОПГ
ВОПГ — Высокоориентированный Пиролитический Графит, материал, получаемый в результате воздействия одноосного давления на пироуглерод, прошедший отжиг при высокой температуре. ВОПГ широко используется в качестве калибровочного образца для АСМ или проводящей подложки в СТМ (Сканирующей Туннельной Микроскопии). Самыми важными свойствами графита являются очень гладкая поверхность и хорошая электропроводимость. Графит имеет слоистую структуру, что позволяет очень просто подготовить образец к работе. Прижав скотч к рабочей стороне графита и потом оторвав его, Вы получаете свежую проводящую плоскую поверхность, с которой можно работать в СТМ или использовать как подложку для исследования других материалов. ВОПГ является интересным объектом для СТМ исследований: шероховатость поверхности, микроскопические свойства поверхности, расположение атомов углерода на поверхности графита и т. д. Более того, атомарные изображения ВОПГ могут использоваться для калибровки СТМ для получения последующих результатов измерений с высоким разрешением.
СБОМ
СБОМ — сканирующий ближнепольный оптический микроскоп, сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия. В ближнепольной оптической микроскопии используются другие принципы построения изображения объекта, которые позволяют преодолеть трудности, связанные с дифракцией света, и реализовать пространственное разрешение на уровне 10 нм и лучше. Повышение разрешения БОМа достигается детектированием рассеяния света от изучаемого объекта на расстояниях меньших, чем длина волны света. В случае, если зонд (детектор) микроскопа ближнего поля снабжен устройством пространственного сканирования, то такой прибор называют сканирующим оптическим микроскопом ближнего поля. Такой микроскоп позволяет получать растровые изображения поверхностей и объектов с разрешением ниже дифракционного предела.
TERS
TERS — Спектроскопия комбинационного рассеяния с усилением наконечника. Измерения на основе АСМ-микроскопии. В режиме TERS рамановский спектр усиливается, когда острый наконечник с золотым покрытием приближается к подсвеченной поверхности образца. Используя кантилевер АСМ в качестве усилителя, измеряют химические свойства образца в нано-диапазоне при помощи встроенного рамановского спектрометра, одновременно получая топографические данные при помощи АСМ.
EN
| Свяжитесь с нами по тел. +7 499 645 5969
Войти
₽
0,0
(0)
0 позиций в корзине
К сожалению, ваша корзина - пустая.
Перейти в магазин
ПРОДУКЦИЯ
NTEGRA ACADEMIA
NTEGRA AURA
NTEGRA MFM
NTEGRA SNOM
NTEGRA SPECTRA
NTEGRA PRIMA
NTEGRA THZ
О КОМПАНИИ
ДОКУМЕНТЫ
КОНТАКТЫ
МАГАЗИН ЗОНДОВ
АСМ зонды
Специализированные АСМ зонды
АСМ калибровка
ВОПГ
СБОМ
TERS
Главная
>
Clients
>
Поделиться этой страницей:
ЗАДАЙТЕ
ВОПРОС
ЭКСПЕРТУ:
EN | Свяжитесь с нами по тел. +7 499 645 5969
Overcoming nanoscale limits
