NTEGRA Spectra

Применение

• Исследование графена, углеродных нанотрубок и других углеродных материалов
• Полупроводники
• Нанотрубки, нанопроволоки, квантовые точки и другие наноматериалы
• Полимеры
• Определение характеристик оптических устройств: полупроводниковые лазеры, оптоволокно, волноводы, устройства плазмоники
• Исследования клеточной ткани, ДНК, вирусов и других биологических объектов
• Контроль химических реакций

Специализация

• Сканирующая зондовая микроскопия (более 40 методов)
• Оптическая микроскопия и конфокальная лазерная (Рэлеевская) микроскопия
• Конфокальная рамановская микроскопия
• Конфокальный флуоресцентный анализ – изображение и спектроскопия
• Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ)
• Зондово-усиленная рамановская/флуоресцентная спектроскопия (TERS, TEPL)
• Контролируемые условия измерений (температура, жидкость, электрохимическая среда)

NTEGRA Spectra поддерживает большинство существующих режимов АСМ (более 40), и СТМ, предоставляя исчерпывающую информацию о физических свойствах образца с нанометровым разрешением: локальной топографии, жесткости, упругости, проводимости, емкости, намагниченности, поверхностном потенциале, трении, пьезоотклике и т.д. В измерительную головку могут быть установлены различные типы зондовых датчиков.

Проведенные одновременно с СЗМ на одном и том же участке образца конфокальные фотолюминесцентные и рамановские измерения позволяют получить информацию о химическом составе образца, кристаллической структуре, ее ориентации и деформации, наличии примесей и дефектов, конформации макромолекул и т.д.

Реализованные в NTEGRA Spectra три канала системы ввода/вывода излучения позволяют заводить на образец инициирующее лазерное излучение и собирать сигнал эмиссии сверху, сбоку, а также снизу. Все три оптических канала системы могут быть установлены как по отдельности, так и одновременно.

NTEGRA Spectra в базовом варианте представляет собой конфокальный лазерный, рамановский и фотолюминесцентный микроскоп. Прибор обеспечивает визуализацию образца, фокусировку возбуждающего лазера на образец и сбор излучения эмиссии от образца. В микрорежиме съемка с картированием может осуществляться перемещением образца и/или перемещением фокуса лазера посредством гальванозеркал.

Система в базовой конфигурации позволяет решать следующие экспериментальные задачи:

• оптическое изображение образца в белом свете с полным функционалом прямого либо инвертированного оптического микроскопа и высоким разрешением;
• 2D изображение поверхности образца в режиме лазерной конфокальной микроскопии;
• 3D послойное оптическое изображение прозрачного образца в режиме лазерной конфокальной микроскопии;
• поточечное спектральное 2D и 3D картирование сигнала комбинационного (рамановского) рассеяния;
• поточечное спектральное 2D и 3D картирование сигнала фотолюминесценции;
• время-разрешенные измерения карт фотолюминесценции;
• измерения спектров, картирование, и построение изображения образца с контролем поляризации падающего и собираемого излучения.

NTEGRA Spectra в расширенном варианте «зондовая микроскопия + оптическая микроспектроскопия» позволяет проводить измерения по отдельности методами СЗМ, конфокальной микроскопии, рамановской и фотолюминесцентной микроспектроскопии, а также исследовать один и тот же образец комбинированно и одновременно вышеуказанными методами, со сканированием образцом и/или зондом и/или фокусом лазера, с построением колокализованных карт любых собираемых сигналов, поточечно привязанных друг к другу.

Система в расширенной конфигурации позволяет решать следующие экспериментальные задачи, дополнительно к базовому варианту:

• с нанометровым разрешением проводить измерения топографии и морфологии поверхности образца, а также его электрических, магнитных, механических и других локальных свойств методами атомно-силовой микроскопии;
• с нанометровым разрешением проводить измерения поверхности образца методами сканирующей туннельной микроскопии;
• реализовать с нанометровым разрешением измерения различных оптических характеристик поверхности образца методами сканирующей ближнепольной оптической микроскопии, апертурной и безапертурной;
• реализовать оптические/спектральные измерения с использованием различных эффектов волновой оптики, в частности, в режимах зондово-усиленной рамановской и фотолюминесцентной спектроскопии (TERS/TEPL), поточечно локально и с построением оптических спектральных карт, с пространственным разрешением <10 нм.