NTEGRA Prima

Универсальный сканирующий зондовый микроскоп, реализующий более 40 методов атомно-силовой и туннельной микроскопии. Функциональные возможности базовой модели могут быть значительно расширены; микроскоп легко интегрировать с другими аналитическими методами в более сложные измерительные системы.

Применение

  • Материаловедение: электрические, магнитные и механические свойства
  • Полимеры и тонкие органические пленки
  • Биология и биотехнология
  • Наноматериалы и наноструктуры
  • Нанообработка/ наноманипуляции

NTEGRA Prima — это многофункциональный прибор, успешно решающий большинство задач в области сканирующей зондовой микроскопии. В NTEGRA Prima реализовано более 40 измерительных методик, что позволяет проводить всесторонний анализ физических свойств поверхности. Микроскоп универсален по своим функциональным и измерительным возможностям, и в тоже время удобен и прост в использовании.

NTEGRA Prima предоставляет возможности для исследования образцов на атомарно-молекулярном уровне в различных средах — на воздухе, в контролируемых условиях и жидких средах. Модульный принцип конструкции обеспечивает уникальную возможность конфигурировать прибор под определённые задачи и методики исследования.

Технические характеристики

Тип сканирования образцом зондом*
Размер образца до 40 мм в диаметре
до 15 мм по высоте
до 100 мм в диаметре
до 15 мм по высоте
Вес образца до 100 г до 300 г
Позиционирование образца 5×5 мм
Точность хода подвижки образца при позиционировании 5 мкм
Диапазон сканирования 100x100x10 мкм
до 200x200x20 мкм (в режиме DualScan)
Нелинейность по XY (с датчиками обратной связи) ≤ 0.1%
Среднеквадратичный шум (RMS) по координате Z в полосе 1000 Гц С датчиками 0.04 нм (обычно), ≤0.06 нм 0.06 нм (обычно), ≤0.07 нм
Без датчиков 0.03 нм 0.05 нм
Оптическая видеосистема Оптическое разрешение 1 мкм 3 мкм
Поле зрения min 0.4х0.3 мм 0.5х0.4 мм
Поле зрения max 4.9х3.7 мм 6.5х4.9 мм
Непрерывное приближение доступно
Виброизоляция Активная 0.6-200 Гц
Пассивная более 200 Гц

* Cканирующая головка может быть использована в качестве самостоятельного СЗМ для проведения измерений на больших образцах.

Возможности и ключевые особенности

Многофункциональность

NTEGRA Prima реализует более 40 измерительных методик сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ), спектроскопии и литографии и является идеальным инструментом для всестороннего исследования физических свойств образца с большой точностью и высоким разрешением.

Оптический контроль и большой диапазон сканирования

Встроенная оптическая видеосистема с разрешением до 1 мкм позволяет упростить процедуру наведения луча лазера на зонд и выбрать участок поверхности для исследования, а также контролировать процесс сканирования в режиме реального времени. Система NTEGRA Prima поддерживает все типы сканирования, необходимые для различных образцов. Доступно сканирование образцом, зондом или одновременное сканирование образцом и зондом. При этом диапазон сканирования увеличивается до 200 мкм в плоскости XY и до 20 мкм вдоль оси Z.

Точность и достоверность

NTEGRA Prima имеет встроенные емкостные датчики обратной связи для всех осей (X, Y, Z). Эти датчики измеряют фактическое перемещение сканера и компенсируют паразитные свойства пьезокерамики, включая нелинейность, гистерезис и крип, с чрезвычайно низким уровнем шума. Это позволяет осуществлять контроль на малых полях — именно то, что нужно для точной нанолитографии, манипуляций нанообъектами и сканирования с высоким разрешением.

Модульная конструкция

Нанолаборатория NTEGRA разработана с открытой архитектурой аппаратного и программного обеспечения. Это позволяет использовать в приборе различные совместимые узлы и компоненты, используя простой метод «plug&play». Благодаря модульной организации можно легко изменять или расширять специализацию базового атомно-силового микроскопа. Такая конструкция обеспечивает уникальную возможность конфигурировать прибор для определённых применений и конкретных методик исследования.

Большой выбор опциональных возможностей

Благодаря открытой архитектуре функциональность NTEGRA Prima может быть значительно расширена. Модульная конструкция позволяет дополнить систему для проведения измерений во внешнем магнитном поле, экспериментов с изменением температуры образца, использовать ближнепольную оптическую микроскопию, рамановскую спектроскопию, и многие другие опции.


← Микроскопы