NTEGRA Academia
Современное технологическое решение для использования в образовательном процессе, изучения основ, формирования навыков работы и освоения базовых методик сканирующей зондовой микроскопии в режимах АСМ/ СТМ.
Комплект поставки
- Базовый сканирующий зондовый микроскоп с учебными АСМ и СТМ головками, оптическая система визуализации
- Установка для травления учебных зондов
- Методическое пособие с описанием вводных и прикладных лабораторных работ в области химии, биологии, физики, материаловедения
- Учебник «Основы сканирующей зондовой микроскопии»
Изучение основ зондовой микроскопии — это хороший способ напрямую познакомиться с самыми современными экспериментальными методами исследования поверхности в нанометровых масштабах. Полученные молодыми специалистами навыки и знания безусловно будут полезны в будущем в таких областях деятельности как физика, химия, биология, материаловедение, и многих других.
Технические характеристики
| Тип сканирования | образцом | |
| Размер образца | до 40 мм в диаметре до 15 мм по высоте |
|
| Вес образца | до 100 г | |
| Позиционирование образца | 5×5 мм | |
| Точность хода подвижки образца при позиционировании | 5 мкм | |
| Диапазон сканирования | 100x100x10 мкм | |
| Нелинейность по XY (с датчиками обратной связи) | ≤ 0.1% | |
| Среднеквадратичный шум (RMS) по координате Z в полосе 1000 Гц | С датчиками | 0.04 нм (обычно), ≤0.06 нм |
| Без датчиков | 0.03 нм | |
| Оптическая видеосистема | Оптическое разрешение | 3 мкм |
| Поле зрения min | 0.4х0.3 мм | |
| Поле зрения max | 4.9х3.7 мм | |
| Непрерывное приближение | доступно | |
| Виброизоляция | Активная | 0.6-200 Гц |
| Пассивная | более 200 Гц | |
| Устройство заточки зондов | Типичный радиус закругления кончика зонда | 100 нм |
| Материал заготовки зонда | вольфрамовая проволока диаметром 0.15-0.2 мм | |
| Источник напряжения | 6 - 9 B / 0.5 А переменного тока | |
| Время травления проволоки | не более 2 мин | |
Прибор NTEGRA Academia комплектуется учебным пособием, в котором доступным языком изложены физические принципы работы зондовых микроскопов, рассмотрены базовые методики измерений, применяемые в зондовой микроскопии, и подробно описаны несколько лабораторных работ, в ходе выполнения которых будут освоены навыки работы на подобных приборах и будут приобретены полезные практические знания.
Прибор NTEGRA Academia и прилагающиеся к нему при поставке учебные образцы и расходные материалы предоставляют пользователю возможность самостоятельной работы на зондовом микроскопе в различных режимах сканирования (контактный, полуконтактный, бесконтактный) и различных режимах модификации поверхности (нанолитография), возможность изучить современные методы обработки и анализа получаемых данных, и разобраться в важном вопросе калибровки зондового микроскопа.