Бесплатный вебинар: "Физические принципы работы атомно-силовой микроскопии" Часть 2

Опубликовано: 22 июня 2026 г.


Бесплатный вебинар: "Физические принципы работы атомно-силовой микроскопии" Часть 2

30 июня в 13:00 состоится третий вебинар в рамках серии бесплатных научно-практических вебинаров, посвященных атомно-силовой микроскопии.

Уважаемые коллеги!

Приглашаем вас принять участие в бесплатном вебинаре: "Физические принципы работы атомно-силовой микроскопии". Часть 2.

Ведущий: Александр Агликов, инженер-разработчик ГК "НТ-МДТ".

30 июня, 13:00 (Мск).

Регистрация по ссылке.

В третьей лекции мы перейдём от физических принципов атомно-силовой микроскопии к тому, как они реализуются в реальном приборе. Разберём, как взаимодействие зонда с поверхностью превращается в измерительный сигнал, как изгиб и колебания кантилевера регистрируются оптической системой, зачем нужны фотодиод, lock-in и обратная связь. Отдельно обсудим, как работает замкнутый измерительный контур АСМ: что такое setpoint, error signal, Z-команда и почему топографическая карта является результатом работы всей системы «зонд - кантилевер - детектор - контроллер - сканер», а не прямой фотографией поверхности. Также будет показано, чем физически различаются контактный, tapping/AM и FM-режимы: какой сигнал в них измеряется, что удерживает обратная связь и какие каналы данных затем нужно интерпретировать. Лекция свяжет физику взаимодействия зонд-образец с практической работой прибора, настройкой режима и пониманием артефактов АСМ.

Присоединяйтесь, чтобы получить системное представление о физических основах атомно-силовой микроскопии!

Участие бесплатное, регистрация обязательна!

НТ-МДТ запускает серию бесплатных научно-практических вебинаров, посвящённых одному из самых востребованных методов исследования наноструктур и поверхностей «Атомно-силовая микроскопия: от физических принципов к корректному измерению и анализу данных». В рамках курса вы познакомитесь с физическими основами работы АСМ, научитесь правильно настраивать оборудование, проводить измерения и грамотно анализировать полученные данные.

Ссылка скопирована