МЕНЮ
Главная
О компании
История
Разработка и производство
Научно-исследовательская
деятельность и образование
Благотворительность
Публичная информация
Оборудование
Микроскопы
NTEGRA Academia
NTEGRA Prima
NTEGRA Aura
NTEGRA MFM
NTEGRA Vita
NTEGRA Spectra
Профилометры
Универсальный профилометр uSTEP 300
Стилусный профилометр uSTEP 300
Инспекционная машина uVISION 300
Зондовая станция uPROBE 200
Установка 3D CD AFM pSTEP 300
Высокоточный XY позиционер uTRACK 300
Спектрометры
Рамановский спектрометр LS RamBo 620
Лазеры
Лазеры
ПЗС-камеры
Зонды
АСМ зонды
Специализированные АСМ зонды
СБОМ
ВОПГ
АСМ калибровка
TERS
Применения
Галерея сканов
Услуги
Пресс-центр
Новости НТ-МДТ
Лекции в ЦЗМ
+7 499 390 66 78
info@ntmdt-russia.com
Si микроструктура. Полуконтактная АСМ. Фазовый контраст.
Размер скана:
50х50 мкм
← Назад в галерею
