Написать в Телеграм +7 499 390 66 78

Галерея сканов

Фильтры
<p>АСМ изображения и рамановские карты слоев графена.</p>

АСМ изображения и рамановские карты слоев графена.
<p>Линия бета-каротина в клетках водорослей</p>

Линия бета-каротина в клетках водорослей
<p>TERS-изображение пучка нанотрубок. Наблюдаемая ширина пучка ~50 нм.</p>

TERS-изображение пучка нанотрубок. Наблюдаемая ширина пучка ~50 нм.
<p>Оптическое конфокальное рамановское изображение пучка нанотрубок,&nbsp;наблюдаемая ширина пучка ~250 нм.</p>

Оптическое конфокальное рамановское изображение пучка нанотрубок, наблюдаемая ширина пучка ~250 нм.
<p>FLIM SNOM микроскопия InP квантовых точек.</p>

FLIM SNOM микроскопия InP квантовых точек.
<p>Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ).</p>

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ).
<p>Параллельные полуцилиндрические мицеллы на ВОПГ. Полуконтактная АСМ.</p>

Параллельные полуцилиндрические мицеллы на ВОПГ. Полуконтактная АСМ.
<p>Подложка SOI после осаждения Si:Er. Полуконтактная АСМ.</p>

Подложка SOI после осаждения Si:Er. Полуконтактная АСМ.
<p>Моноступени на поверхности кремния. Полуконтактная АСМ.</p>

Моноступени на поверхности кремния. Полуконтактная АСМ.
<p>Логотип &laquo;Активная фотоника&raquo;, сформированный методом локального анодного окисления кремниевой пластины.</p>

Логотип «Активная фотоника», сформированный методом локального анодного окисления кремниевой пластины.
<p>Пленка перовскитов состава MAPbI<sub>3</sub>. Метод зонда Кельвина.</p>

Пленка перовскитов состава MAPbI3. Метод зонда Кельвина.
<p>Пленка оксида титана (TiO<sub>2</sub>). Метод зонда Кельвина.</p>

Пленка оксида титана (TiO2). Метод зонда Кельвина.
<p>Пленка оксида титана (TiO<sub>2</sub>). Метод зонда Кельвина.</p>

Пленка оксида титана (TiO2). Метод зонда Кельвина.
<p>100 нм кобальтовые частицы. Магнитно-силовая микроскопия.</p>

100 нм кобальтовые частицы. Магнитно-силовая микроскопия.
<p>100 нм кобальтовые частицы. Полуконтактная АСМ.</p>

100 нм кобальтовые частицы. Полуконтактная АСМ.
<p>Si микроструктура. Полуконтактная АСМ. Фазовый контраст.</p>

Si микроструктура. Полуконтактная АСМ. Фазовый контраст.
<p>Образец углерода. Метод зонда Кельвина с амплитудной модуляцией.</p>

Образец углерода. Метод зонда Кельвина с амплитудной модуляцией.
<p>Эпитаксиальная пленка BiSbTeSe2 на Si. Полуконтактная АСМ.</p>

Эпитаксиальная пленка BiSbTeSe2 на Si. Полуконтактная АСМ.
<p>Ступеньки SiC высотой 1.5 нм. Полуконтактная АСМ.</p>

Ступеньки SiC высотой 1.5 нм. Полуконтактная АСМ.
<p>Пленка оксида титана (TiO<sub>2</sub>). Микроскопия пьезоотклика.</p>

Пленка оксида титана (TiO2). Микроскопия пьезоотклика.
<p>Пленка LiNbO<sub>3</sub>. Микроскопия пьезоотклика.</p>

Пленка LiNbO3. Микроскопия пьезоотклика.
<p>Пленка LiNbO<sub>3</sub>. Микроскопия пьезоотклика.</p>

Пленка LiNbO3. Микроскопия пьезоотклика.
Монокристалл PMN-PT. Вертикальная силовая микроскопия пьезоотклика.
Монокристалл PMN-PT. Вертикальная силовая микроскопия пьезоотклика.
Влияние внешнего вертикального магнитного поля на структуру доменов железо- иттриевого граната. Двухпроходная МСМ.
Влияние внешнего вертикального магнитного поля на структуру доменов железо- иттриевого граната. Двухпроходная МСМ.
Нити оксида цинка, легированные железом. Полуконтактный метод.
Нити оксида цинка, легированные железом. Полуконтактный метод.
Пленка восстановленного оксида графена (GO). Полуконтактный метод.
Пленка восстановленного оксида графена (GO). Полуконтактный метод.
Электропробой пленки полиметилметакрилата на кремнии. Полуконтактный режим АСМ.
Электропробой пленки полиметилметакрилата на кремнии. Полуконтактный режим АСМ.
Пленка GaN. Топография. Полуконтактный метод.
Пленка GaN. Топография. Полуконтактный метод.
Топография. АСМ. Сплав LDPE@PP.
Топография. АСМ. Сплав LDPE@PP.
Топография. АСМ. ITO.
Топография. АСМ. ITO.
Загрузка...