МЕНЮ
Главная
О компании
История
Разработка и производство
Научно-исследовательская
деятельность и образование
Благотворительность
Публичная информация
Оборудование
Микроскопы
NTEGRA Academia
NTEGRA Prima
NTEGRA Aura
NTEGRA MFM
NTEGRA Vita
NTEGRA Spectra
Профилометры
Универсальный профилометр uSTEP 300
Стилусный профилометр uSTEP 300
Инспекционная машина uVISION 300
Зондовая станция uPROBE 200
Установка 3D CD AFM pSTEP 300
Высокоточный XY позиционер uTRACK 300
Спектрометры
Рамановский спектрометр LS RamBo 620
Лазеры
Лазеры
ПЗС-камеры
Зонды
АСМ зонды
Специализированные АСМ зонды
СБОМ
ВОПГ
АСМ калибровка
TERS
Услуги
Применения
Галерея сканов
Пресс-центр
Новости НТ-МДТ
Лекции в ЦЗМ
+7 499 390 66 78
info@ntmdt-russia.com
Галерея сканов
Фильтры
Методика сканирования
Все
Полуконтактный режим
Магнитно-силовая микроскопия
Пьезоэлектрическая силовая микроскопия
Сканирующая Кельвин-зонд микроскопия
Зондовая литография
Рамановская микроскопия
Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия
Объект сканирования
Все
Композиционные микро- и наноматериалы
Предельное разрешение
Полупроводники
Полимерные материалы
Углеродные материалы
Магнитные материалы
Биологические объекты
Сегнетоэлектрики
Квантовые точки
Сбросить
Кристаллы сульфанатного тиакаликсарена на Si, модифицированном PEI-H+. Полуконтактная АСМ.
