Универсальный сканирующий зондовый микроскоп, реализующий более 40 методов атомно-силовой и туннельной микроскопии. Функциональные возможности базовой модели могут быть значительно расширены; микроскоп легко интегрировать с другими аналитическими методами в более сложные измерительные системы.