NTEGRA SPECTRA
Первая в мире интеграция атомно-силового микроскопа (АСМ) с конфокальной Рамановской /флуоресцентной микроскопией и спектроскопией.

ОБЩАЯ ИНФОРМАЦИЯ
Интеграция: новые возможности
Новые направления в науке требуют новых методов исследования. Для получения наиболее полной информации об исследуемом образце необходим комплексный подход, объединяющий в себе возможности сразу нескольких измерительных методик. НаноЛаборатория ИНТЕГРА Спектра — это первая в мире интеграция атомно-силового микроскопа (АСМ) с конфокальной КР /флуоресцентной микроскопией и спектроскопией.
Исследовательские комплексы для изучения свойств наноструктурированных материалов на базе приборов серии Ntegra могут быть поверены в части технических параметров модуля зондовой микроскопии (атомно-силовой микроскопии) в соответствии с законодательством Российской Федерации (свидетельство об утверждении Типа средств измерения RU.C.27.004.A №39742 – в настоящее время проходит процедуру продления).
Одновременные исследования методами АСМ и конфокальной КР микроскопии / флуоресцентного анализа.
ИНТЕГРА Спектра поддерживает большинство существующих на сегодняшний день АСМ методов (более 30), позволяющих проводить исследования с нанометровым разрешением. Использование совокупности этих методов предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многие другие.
Возможность одновременного с АСМ исследования одного и того же участка образца с применением методов конфокальной КР спектроскопии и флуоресцентного анализа позволяет получить данные о химическом составе, кристаллической структуре и ее ориентации, присутствии примесей и дефектов, формы макромолекул и пр.
ИНТЕГРА Спектра позволяет проводить измерения на базе прямого и инвертированного оптических микроскопов. Образец может быть помещен в контролируемую атмосферу или в жидкую среду при изменяемой температуре.
Полный спектр КР/флуоресценции регистрируется в каждой точке исследуемого образца с последующей программной обработкой одновременно с получением АСМ изображения. Благодаря высокому качеству оптической системы двух- и трехмерные распределения спектральных характеристик образца могут быть изучены с пространственным разрешением, близким к теоретическому пределу.

СПЕКТРОСКОПИЯ НА МОЛЕКУЛЯРНОМ УРОВНЕ
Основными проблемами при проведении исследований с помощью КР микроскопии являются малая величина сигнала КР и дифракционный предел пространственного разрешения.
Сигнал КР, как правило, составляет 1/1000000 интенсивности сигнала флуоресценции. При использовании видимого света разрешение в классической конфокальной микроскопии приблизительно равно 200 нм.
Новым словом в КР микроскопии стало открытие интересного феномена: интенсивность электромагнитного поля (света) может быть значительно увеличена вблизи наноразмерных металлических выступов («наноантенн»), что приводит к соответствующему усилению сигнала КР от объектов в радиусе ~15 нм около кончика наноантенны. Этот эффект получил название гигантского комбинационного рассеяния света (ГКР), на основе которого разработаны методы поверхностно-усиленной КР спектроскопии (Surface-Enhanced Raman Spectroscopy, SERS) и зондово-усиленной КР спектроскопии (Tip-Enhanced Raman Spectroscopy, TERS).
С помощью специально подготовленного АСМ зонда ИНТЕГРА Спектра позволяет на несколько порядков увеличить значение интенсивности сигнала КР в радиусе 10–20 нм около кончика зонда (эффект ГКР). Таким образом, разрешение по плоскости при картировании КР (TERS) и флуоресценции не ограничено дифракционным пределом и может достигать значений меньше, чем 15 нм.
Даже одиночные молекулы могут быть обнаружены и идентифицированы в соответствии с их спектром.
ПРИМЕНЕНИЕ
- Исследование графена, углеродных нанотрубок и других других углеродных материалов
- Полупроводники
- Нанотрубки, нанопроволоки, квантовые точки и другие наноматериалы
- Полимеры
- Определение характеристик оптических устройств: полупроводниковые лазеры, оптоволокно, волноводы, устройства плазмоники
- Исследования клеточной ткани, ДНК, вирусов и других биологических объектов
- Контроль химических реакций
Методики: · Более 30 АСМ методов для измерения рельефа поверхности, механических, электрических, магнитных свойств образца, проведения наноманипуляций и пр. · Оптическая микроскопия и конфокальная лазерная (Рэлеевская) микроскопия · Конфокальная КР микроскопия · Конфокальный флуоресцентный анализ: изображение и спектроскопия · Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ), в том числе безапертурная · Зондово-усиленная КР / флуоресцентная спектроскопия (TERS, TEFS) |
Контролируемые условия измерений: · Температура образца · Влажность · Газовый состав · Измерения в жидкости · Внешнее магнитное поле · Использование электрохимической ячейки |
Конфокальная микроскопия | ||
Лазерный модуль | Длина волны* | 350 нм — 800 нм |
— Система ввода | X-Y-Z позиционер, точность позиционирования 1 мкм |
|
Держатель волокна с V-канавкой | ||
40X объектив ввода | ||
Волоконная Система Доставки KineFlex | ||
Аттенюатор | VND фильтр | |
Оптический модуль | Инвертированный микроскоп | |
Корпус с оптикой (390-800 нм) | ||
Поляризатор в канале облучения с призмой Glan-Taylor 390-1000 нм – ручной | ||
Поляризатор в канале регистрации спризмой Glan-Taylor 390-1000 нм – моторизованный | ||
1/2 волновая пластинка, моторизованная – 3 положения | ||
Расщепитель луча | ||
60x TIRF объектив, NA 1,45** | ||
Evanescent excitation option (для TERS) | ||
Модуль сканирования | Вес образца | До 1000 г |
Область сканирования | 100x100x25 мкм | |
Сканирование с замкнутой обратной связью | Емкостные датчики по X, Y, Z | |
Нелинейность, XY | 0.03 % (типично) | |
Уровень шума, Z | <0.2 нм (типично) | |
Уровень шума, XY | <0.5 нм (типично) | |
Диафрагма | Изменяемая от 0 до 1 мм, с шагом 1 мкм |
Спектроскопия | ||
Спектрометрическая фокальная длина | 520 мм | |
Отсечка рассеянного излучения | 10-5 измеренная на 20 нм от 632 нм лазерной линии | |
Контроль щели | 0–1 мм, размер шага 1 мкм, полностью автоматический | |
Плоское поле | 28 мм x 10 мм | |
Спектральное разрешение | 0.025 нм (1200 l/мм сетка*) | |
Порты | 1 вход, 2 выхода | |
Держатель решеток | 4-позиционная турель | |
Детекторы | ПЗС | Спектральная чувствительность 200–1000 нм, термоэлектрическое охлаждение до –80°C, 95 % величина эффективности до 500 нм |
ЛФД для счета фотонов** | Спектральная чувствительность 400–1000 нм, темновой поток = 25 фотонов/сек, поставляется с PCI платой со скоростью отсчета 1 ГГц |