I'm looking for
product
Любой
АСМ зонды
Специализированные АСМ зонды
СБОМ
ВОПГ
АСМ калибровка
TERS
in a size
size
Любой
Набор из 5 зондов, размер 2um
Набор из 5 зондов, размер 3,5um
Набор из 5 зондов, размер 6,5um
Набор из 5 зондов, размер 10um
Набор из 5 зондов, размер 15um
Набор из 7 штук
Набор из 10 штук
Набор из 15 штук
Набор из 30 штук
Набор из 50 штук
Набор из 100 штук
. Show me the
&
items.
Super Search
ПРОДУКЦИЯ
NTEGRA ACADEMIA
NTEGRA AURA
NTEGRA MFM
NTEGRA SNOM
NTEGRA SPECTRA
NTEGRA PRIMA
NTEGRA THZ
О КОМПАНИИ
ДОКУМЕНТЫ
КОНТАКТЫ
МАГАЗИН ЗОНДОВ
АСМ зонды
Кантилевер входит в строение микроскопа, является ключевым элементом любого сканирующего зондового микроскопа, от свойств и качества которого зависит успешная работа микроскопа в целом. Это основной измерительный элемент многих типов зондовых микроскопов. Правильный выбор кантилевера является одним из важнейших условий получения отличных АСМ изображений. Важнейшей составляющей AСM (Атомно-силового микроскопа) являются сканирующие зонды — кантилеверы. Кантилевер представляет собой гибкую балку (175х40х4 мкм — усредненные данные) с определенным коэффициентом жесткости k (10-3 – 10 Н/м), на конце которой находится микро игла.
Специализированные АСМ зонды
Кантилевер — это наиболее распространненый датчик силового взаимодействия в атомно-силовой микроскопии. Любую информацию о поверхности атомно-силовой микроскоп получает благодаря механическим отклонениям балки кантилевера, которые регистрируются оптической системой. АСМ изображение в этом случае характеризует пространственное распределение силы взаимодействия зонда с поверхностью.
АСМ калибровка
Для определения достоверности исследований методом АСМ — микроскопии проводится тестирование и калибровка работы микроскопа и тестирование качества зондов (цена деления по X-, Y-, Z- координатам, радиус острия кантилевера, линейность и ортогональность осей сканирования). Для калибровки и определения рабочей формы зондов используются специальные тестовые структуры с известными параметрами рельефа поверхности. Для калибровки микроскопов в плоскости сканирования и по вертикали применяются дифракционные решетки с субмикронными размерами. При отсутствии специально изготовленных калибровочных решеток, можно использовать в качестве тестового объекта для получения атомарного разрешения свежий скол слюды или высоко ориентированного пиролитического графита (ВОПГ), т.к. параметры их рельефа хорошо известны. Преимуществами графита как тестового образца являются: стабильная работа выхода; низкая концентрация точечных и линейных дефектов; низкая химическая активность в атмосферных условиях; возможность получения атомарно — чистой поверхности.
ВОПГ
ВОПГ — Высокоориентированный Пиролитический Графит, материал, получаемый в результате воздействия одноосного давления на пироуглерод, прошедший отжиг при высокой температуре. ВОПГ широко используется в качестве калибровочного образца для АСМ или проводящей подложки в СТМ (Сканирующей Туннельной Микроскопии). Самыми важными свойствами графита являются очень гладкая поверхность и хорошая электропроводимость. Графит имеет слоистую структуру, что позволяет очень просто подготовить образец к работе. Прижав скотч к рабочей стороне графита и потом оторвав его, Вы получаете свежую проводящую плоскую поверхность, с которой можно работать в СТМ или использовать как подложку для исследования других материалов. ВОПГ является интересным объектом для СТМ исследований: шероховатость поверхности, микроскопические свойства поверхности, расположение атомов углерода на поверхности графита и т. д. Более того, атомарные изображения ВОПГ могут использоваться для калибровки СТМ для получения последующих результатов измерений с высоким разрешением.
СБОМ
СБОМ — сканирующий ближнепольный оптический микроскоп, сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия. В ближнепольной оптической микроскопии используются другие принципы построения изображения объекта, которые позволяют преодолеть трудности, связанные с дифракцией света, и реализовать пространственное разрешение на уровне 10 нм и лучше. Повышение разрешения БОМа достигается детектированием рассеяния света от изучаемого объекта на расстояниях меньших, чем длина волны света. В случае, если зонд (детектор) микроскопа ближнего поля снабжен устройством пространственного сканирования, то такой прибор называют сканирующим оптическим микроскопом ближнего поля. Такой микроскоп позволяет получать растровые изображения поверхностей и объектов с разрешением ниже дифракционного предела.
TERS
TERS — Спектроскопия комбинационного рассеяния с усилением наконечника. Измерения на основе АСМ-микроскопии. В режиме TERS рамановский спектр усиливается, когда острый наконечник с золотым покрытием приближается к подсвеченной поверхности образца. Используя кантилевер АСМ в качестве усилителя, измеряют химические свойства образца в нано-диапазоне при помощи встроенного рамановского спектрометра, одновременно получая топографические данные при помощи АСМ.
EN
| Свяжитесь с нами по тел. +7 499 645 5969
Войти
₽
0,0
(0)
0 позиций в корзине
К сожалению, ваша корзина - пустая.
Перейти в магазин
ПРОДУКЦИЯ
NTEGRA ACADEMIA
NTEGRA AURA
NTEGRA MFM
NTEGRA SNOM
NTEGRA SPECTRA
NTEGRA PRIMA
NTEGRA THZ
О КОМПАНИИ
ДОКУМЕНТЫ
КОНТАКТЫ
МАГАЗИН ЗОНДОВ
АСМ зонды
Специализированные АСМ зонды
АСМ калибровка
ВОПГ
СБОМ
TERS
Документы
Главная
>
О компании
>
Документы
СВИДЕТЕЛЬСТВА О РЕГИСТРАЦИИ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ
2019661710
HYBRID 3.0. (HD mode)
2019664132
ScanTronic (программный модуль Hybrid 3.0)
2019664131
Nova Px (версия 4.0 - Nova SMP)
2019661709
NOVA SMP
НАШИ ПАТЕНТЫ
Патент 2227333
Сканирующий зондовый микроскоп с системой автоматического слежения за кантилевером
Патент 2244332
Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с оптическим микроскопом
Патент 2329465
Способ измерения рельефа поверхности объекта с использованием сканирующего зондового микроскопа
Патент 2428655
Способ ускорения изменения рельефа поверхности для сканирующего зондового микроскопа
Патент 2428700
Блок управления для сканирующих зондовых микроскопов
Патент 2472106
Емкостной датчик для измерения линейных перемещений
Патент 2481590
Способ изготовления коллоидного зондового датчика для атомно-силового микроскопа
Патент 2538412
Сканирующий зондоый микроскоп с устройством для функционирования многозондового датчика
Патент 2592048
Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа
ЗАДАЙТЕ
ВОПРОС
ЭКСПЕРТУ:
EN | Свяжитесь с нами по тел. +7 499 645 5969 EN | Свяжитесь с нами по тел. +7 499 645 5969
Overcoming nanoscale limits
