Контактный режим работы АСМ был разработан более 30 лет назад. В самом его названии уже заложен основной принцип работы таких методов – постоянное взаимодействие зонда с поверхностью образца…
Это самый популярный из контактных методов АСМ. Данный метод позволяет определить рельеф поверхности исследуемого образца, а также другие параметры, например, сопротивление растекания.
Позволяет определять участки поверхности образца с различными коэффициентами трения. При проведении сканирования образца зондом АСМ в перпендикулярно-продольной оси кантилевера, он изгибается в нормальных направлениях.
Отображение сопротивления растекания используется при различных исследованиях. Например, для обнаружения дефектов в проводящих пленках или проведения локальных электрических измерений.
Piezoelectric Force Microscopy – PFM позволяет проводить исследования доменной структуры сегнетоэлектриков.
Уже достаточно давно является универсальным методом исследований, который находит применение в различных областях науки и техники.
Контактные методы обладают различными достоинствами, однако все они имеют недостаток, который в некоторых случаях является существенным.
Главным из недостатков является ограничение скорости сканирования – она лимитируется временем срабатывания обратной связи.
Позволяет получать изображения распределения магнитных сил (магнитных доменов) по поверхности зонда.
Метод, позволяющий изучать распределение поверхностного потенциала по образцу. Широко используется для изучения электрических свойств поверхности различных проводящих и полупроводниковых материалов, а также биологических образцов.
Динамический метод, позволяющий производить картирование изменений свойств поверхности образца, таких как эластичность, адгезия и трение.
Позволяет определять силы, действующие на зонд со стороны образца, например, адгезию и упругость.
Силовая литография основана на непосредственном механическом воздействии остроконечного зонда на поверхность образца (контактная силовая микроскопия).
Эффективное средство для исследования электрических свойств поверхности образца путем обнаружения электростатической силы между поверхностью и острием зонда.
Принцип сканирующей туннельной микроскопии заключается в приложении напряжения смещения между остроконечной проводящей иглой и проводящим образцом и регистрации туннельного тока между ними.
Мощный метод атомно-силовой микроскопии для определения характеристик полупроводниковых приборов.
Суть сканирующей прыжковой микроскопии (СПМ) заключается в последовательном измерении зависимости силы прижатия зонда к поверхности образца от величины расстояния между зондом и образцом F(z) в каждой точке области сканирования.
Адрес ООО “НТ-МДТ”
124460, г. Москва, г. Зеленоград, Панфиловский проспект, д. 10, помещ.44н/2
+7 499 390 66 78
Почта: info@ntmdt-russia.com
Почта: sale@ntmdt-russia.com
ИНН 7735184244
© 2024 Группа Компаний ООО "НТ-МДТ"
Политика конфиденциальности
