C 7 по 11 октября 2024 на базе Физико-технического института им. А.Ф. Иоффе и Академического университета им. Ж.И. Алферова прошла крупнейшая в России конференция, посвященная фундаментальным и прикладным проблемам современной физики и технологии полупроводников — «XVI Российская конференция по физике полупроводников (РКФП-XVI)».
Основные разделы программы конференции были посвящены наиболее актуальным и активно обсуждаемым проблемам физики полупроводников:
- объемные полупроводники
- эпитаксия, атомная и электронная структура поверхности
- оптическая микроскопия
- двумерные и одномерные системы, гетероструктуры и сверхрешетки
- нульмерные системы
- спинтроника и наномагнетизм
- высокочастотные явления в полупроводниках
- атомарно-тонкие двумерные полупроводники
- нанофотоника и квантовая оптика и др.
«Активная фотоника» выступила спонсором мероприятия и приняла участие в выставке и работе конференции.
Большим интересом у посетителей стенда пользовались отечественные разработки, такие как сканирующие зондовые микроскопы линейки NTEGRA и универсальный профилометр uSTEP 300 для неразрушающего контроля пластин Ø300 мм.
Менеджер проектов компании Комарова С.О. представила на конференции доклад на тему «Передовые приборы и решения для проведения экспериментов по изучению физики поверхности на наномасштабе методами зондовой микроскопии и оптической микроспектроскопии».
Благодарим организаторов за уникальную возможность представить новейшие разработки, а также ознакомиться с последними тенденциями и инновациями в области полупроводниковых технологий и экспериментального оборудования.
