Уже на этой неделе в нашем ЦЗМ AFM Centre пройдет лекция, на которой будет возможность подробно изучить вероятностно-статистический подход в измерении наношероховатости с помощью атомно-силовой и интерференционной микроскопии.
«На данный момент появилось и продолжает появляться достаточно большое количество различных методов модифицировать геометрии поверхности на наноуровне.»
Для исследования получаемого нанорельефа разработано множество инструментов, однако вопросы о сопоставлении получаемых данных между разными инструментами и о их статистической значимости в масштабах всей исследуемой поверхности всё ещё остаются открытым.
На лекции мы рассмотрим данные вопросы на примере атомно-силового и интерференционного микроскопа.
Адрес проведения: Университет ИТМО, Санкт-Петербург, ул. Ломоносова 9, аудитория 2222, ЦЗМ AFM Centre
